Variabilitat, fiabilitat, DFM, DFY

[Salma Ali Bakr]

Hola,

Necessito una mica de les referències per favor, sobre: la variabilitat, fiabilitat, DFM, DFY, etc(sobre els efectes Submicron profundes relacionades amb l'ampliació en general)

llibres, articles, documents, tutorials, web ...!Gràcies,
Salma

 

[stuck_adc]

Et adjunt una mica de material per a la variabilitat i el soroll de substrat ......

tots els termes estan relacionats entre si sol, en relació amb la millora de rendiment per als nodes rtechnology superior a 180nm ........... aquest problema de rendiment ve en imatge com per als nodes superior a 180nm systemetic i defectes dels paràmetres a ser dominant .... ...
Fins i tot pots buscar en alguns llocs Web les universitats.

per a qualsevol problema específic o l'efecte de segon ordre que vostè pot enviar de tornada.
Espero que això l'ajuda a .......

 

[Salma Ali Bakr]

Gràcies, però no hi ha res connectat ...

Només necessito saber sobre aquests conceptes en general, sense entrar en detalls, la causa que serà d'alguna manera relacionades amb el meu futur treball ....

Gràcies,
Salma

 

[stuck_adc]

hola
He intentat carregar els arxius, però no va ser capaç de carregar d'ells, fins llavors només pot navegar per aquests enllaços i llibres ..... aquests segurament li donarà una idea de la DFM i els efectes de segon ordre ......Y. Chen, AB Kahng, G. i A. Robins Zelikovsky, útils Iterated Plena de síntesi per CMP homogeneïtat ", Proc. Design Automation Conf., Juny de 2000, pp. 671-674.

Zhan Chen i Israel Koren, capa de Reassignació per a la minimització d'efectes a Antena 3-Layer Canal d'enrutament Actes del Taller sobre Defecte i tolerància a errors en els sistemes VLSI (DFT), gener 1996, p. 77 85.

Jon Wilkening, Difusió de Fronteres de gra a causa de l'estrès i electromigració,
De l'Institut Courant de Ciències Matemàtiques de juliol 20,2004, p. 1 48.
Chin-Chi Teng, Cheng Yi-Kan, Elyse Rosenbaum, i Sung-Mo Kang, jeràrquica

Fiabilitat de la electromigració Diagnòstic d'interconnexions de VLSI, revistes de la 33 ª Conferència d'automatització de disseny, les vagues, NV, EUA, 1996, p. 3 23.

Neil HE Weste & Kamran Eshraghian, Principi de CMOS Design, Pearson Education Edition segona, 2002, pp 109-464.

E. Fujishin, K. Garret, MPLouis, RFMotta, i MDHartranft, Optimitzat circuits protaction ESD per MOS d'alta velocitat / VLSI, els procediments de IEEE del costum Integrated Circuits Conference, maig de 1984, pp.569-573

De Takayasu Sakurai, Kazutaka Nogami, Masakazu Kakumu, i Tetsuya lizuka, generació de portadors calents en el medi ambient submicrométricas VLSI, IEEE JSSG, vol.SC-20, no.2, Apr.1985, pp.531-536